蔡司Xradia 800 Ultra納米級X射線顯微鏡

蔡司Xradia 800 Ultra 納米級X射線顯微鏡，可實現(xiàn)低至50 nm的空間分辨率，是基于實驗室的X射線成像系統(tǒng)中**高的。 隨著非破壞性3D成像在當今的突破性研究中發(fā)揮至關重要的作用，您將在基于實驗室的超高分辨率系統(tǒng)中體驗無與倫比的性能。 創(chuàng)新的Xradia Ultra架構采用吸收和相位對比成像模式以及8 keV的X射線能量，采用同步加速器改造的獨特光學元件。 使用Xradia 800 Ultra，期望獲得無與倫比的原位和4D功能，用于研究材料隨時間的演變，并擴展材料科學，生命科學，自然資源和各種工業(yè)應用中使用的X射線成像的極限。

蔡司Xradia 800 Ultra 納米級X射線顯微鏡，可實現(xiàn)低至50 nm的空間分辨率，是基于實驗室的X射線成像系統(tǒng)中**高的。 隨著非破壞性3D成像在當今的突破性研究中發(fā)揮至關重要的作用，您將在基于實驗室的超高分辨率系統(tǒng)中體驗無與倫比的性能。 創(chuàng)新的Xradia Ultra架構采用吸收和相位對比成像模式以及8 keV的X射線能量，采用同步加速器改造的獨特光學元件。 使用Xradia 800 Ultra，期望獲得無與倫比的原位和4D功能，用于研究材料隨時間的演變，并擴展材料科學，生命科學，自然資源和各種工業(yè)應用中使用的X射線成像的極限。

　　亮點

　　Xradia 800 Ultra的分辨率高達50 nm，可讓您深入了解以前無法通過傳統(tǒng)實驗室X射線技術獲得的微觀結構和工藝。 使用8 keV X射線進行操作可為各種材料提供出色的穿透力和對比度，使您能夠觀察其自然狀態(tài)下的結構和材料。

　　蔡司Xradia 800 Ultra提供可靠的內部3D信息，否則只能通過橫截面等破壞性方法訪問。 大工作距離和大氣樣本環(huán)境使您可以輕松地進行原位研究。

　　優(yōu)勢

　　非破壞性3D X射線成像允許重復成像相同樣品，允許直接觀察微觀結構演變
　　保持低至50nm的高分辨率用于原位裝置內的樣品成像
　　用于斷層攝影重建的自動圖像對準
　　可切換的視場范圍從15到60μm
　　吸收和Zernike相襯成像模式
　　在您的實驗室中開發(fā)，準備和測試您計劃的同步加速器實驗，以提高同步加速器光束時間的有效性

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